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塗(tu)裝(zhuang)儀器
塗(tu)鍍(du)層(ceng)測(ce)厚(hou)儀
LAT-B塗鍍(du)層(ceng)測(ce)厚(hou)儀

產(chan)品簡(jian)介
LAT-B 塗(tu)鍍(du)層(ceng)測(ce)厚(hou)儀是(shi)壹(yi)款利(li)用、電磁(ci)感應原(yuan)理,采(cai)用單(dan)片機(ji)控制的(de)智(zhi)能(neng)化(hua)儀 測(ce)量(liang)磁(ci)性(xing)基層(ceng)上塗(tu)、鍍(du)層(ceng)厚(hou)度它(ta)在LAT-A的(de)基礎(chu)上去(qu)除了(le)存儲、打(da)印、統(tong)計(ji)、通(tong)信(xin)等(deng)不(bu)常用功(gong)能(neng),精(jing)簡(jian)了(le)面板(ban)按(an)鍵(jian),具(ju)有體積(ji)更小、使(shi)用更簡(jian)單(dan)的(de)特(te)點(dian)。是(shi)壹(yi)款更適合現(xian)場(chang)使(shi)用的(de)儀器。它(ta)可(ke)以單(dan)次、連(lian)續測(ce)量(liang),具(ju)有超(chao)差(cha)報(bao)警功(gong)能(neng)。
產(chan)品分(fen)類(lei)
LAT-B 塗鍍(du)層(ceng)測(ce)厚(hou)儀是(shi)壹(yi)款利(li)用、電磁(ci)感應原(yuan)理,采(cai)用單(dan)片機(ji)控制的(de)智(zhi)能(neng)化(hua)儀 測(ce)量(liang)磁(ci)性(xing)基層(ceng)上塗(tu)、鍍(du)層(ceng)厚(hou)度它(ta)在LAT-A的(de)基礎(chu)上去(qu)除了(le)存儲、打(da)印、統(tong)計(ji)、通(tong)信(xin)等(deng)不(bu)常用功(gong)能(neng),精(jing)簡(jian)了(le)面板(ban)按(an)鍵(jian),具(ju)有體積(ji)更小、使(shi)用更簡(jian)單(dan)的(de)特(te)點(dian)。是(shi)壹(yi)款更適合現(xian)場(chang)使(shi)用的(de)儀器。它(ta)可(ke)以單(dan)次、連(lian)續測(ce)量(liang),具(ju)有超(chao)差(cha)報(bao)警功(gong)能(neng)。
LAT-B 塗(tu)鍍(du)層(ceng)測(ce)厚(hou)儀是(shi)壹(yi)款利(li)用、電磁(ci)感應原(yuan)理,采(cai)用單(dan)片機(ji)控制的(de)智(zhi)能(neng)化(hua)儀 測(ce)量(liang)磁(ci)性(xing)基層(ceng)上塗(tu)、鍍(du)層(ceng)厚(hou)度它(ta)在LAT-A的(de)基礎(chu)上去(qu)除了(le)存儲、打(da)印、統(tong)計(ji)、通(tong)信(xin)等(deng)不(bu)常用功(gong)能(neng),精(jing)簡(jian)了(le)面板(ban)按(an)鍵(jian),具(ju)有體積(ji)更小、使(shi)用更簡(jian)單(dan)的(de)特(te)點(dian)。是(shi)壹(yi)款更適合現(xian)場(chang)使(shi)用的(de)儀器。它(ta)可(ke)以單(dan)次、連(lian)續測(ce)量(liang),具(ju)有超(chao)差(cha)報(bao)警功(gong)能(neng)。
| 顯示(shi)方(fang)法 | 4位(wei)液(ye)晶(jing)數(shu)字(zi) | 自(zi)動關機(ji) | 1分(fen)鐘 | ||||||
| 測(ce)量(liang)方法 | 電磁(ci)感應測(ce)厚(hou) | 低電壓指(zhi)示(shi) | 顯示(shi) | ||||||
| 測(ce)量(liang)單(dan)位(wei) | μm、mm自(zi)動轉換(huan) | 接(jie)觸顯示(shi) | 顯示(shi) | ||||||
| 顯示(shi)精(jing)度 | 1μm | 電源 | 2節5號電池 | ||||||
| 測(ce)量(liang)方式 | 單(dan)壹(yi)及連(lian)續測(ce)量(liang) | 外型(xing)尺(chi)寸 | 124×67×32mm | ||||||
| F1探頭(tou)測(ce)量(liang)範(fan)圍 | 10~1250μm | 重量 | 240g | ||||||
| F2探(tan)頭(tou)測(ce)量(liang)範(fan)圍 | 500μm~10mm | 使(shi)用環(huan)境 | . | ||||||
| 誤(wu)差(cha) | ±(3%H+1) μm | 溫(wen)度 | 0~+40℃ | ||||||
| zui小基鐵(tie)厚(hou)度 | 300μm | 濕(shi)度 | 40℃(20~90)%RH | ||||||
| 隨機(ji)探(tan)頭(tou) | F1探(tan)頭 | 可(ke)選(xuan)配探(tan)頭(tou) | F1探頭、F2探頭(tou) | ||||||
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